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元器件的可靠性測試(下)
由于元器件制造水平不斷提高,新型元器件不斷出現(xiàn),許多設(shè)計師還未能掌握新型元器件的使用方法,所以由于使用原因造成的失效在元器件失效中的比例居高不下,根據(jù)近年來國內(nèi)外電子整機失效統(tǒng)計,由于在元器件使用方面造成的失效一直在50%上下浮動,這一嚴(yán)重事實已引起人們的普遍關(guān)注,提出了進 一步開展可靠性研究的迫切要求,作為一名電子工程技術(shù)人員,學(xué)習(xí)和研究元器件使用可靠性,已成為一項重要的使命。 隨著電子科學(xué)的飛速發(fā)展,整機系統(tǒng)的性能越來越優(yōu)異,功能越來越齊全,結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,所用元器件越來越多,元器件已從過去的基礎(chǔ)技術(shù),躍升為現(xiàn)代的核心技術(shù)。一代新型元器件的問世,預(yù)示著新一代整機系統(tǒng)的飛躍,沒有高可靠的電子元器件,就沒有高可靠高性能的大型電子系統(tǒng)。要保障整機系統(tǒng)的可靠性,就必須在整機研制過程中對元器件的質(zhì)量進行控制。
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